高低溫試驗(yàn)箱是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行耐干、耐旱、耐寒、耐潮濕等試驗(yàn)溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

      高低溫試驗(yàn)測量審核方法：

      高低溫能力驗(yàn)證的參考標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》。

      測量時接通電路，開啟試驗(yàn)箱，從常溫開始降溫（低溫能力驗(yàn)證）或升溫（高溫能力驗(yàn)證），觀察指示燈狀態(tài)至指示燈熄滅，記錄指示燈熄滅瞬間樣品的動作溫度。能力驗(yàn)證測量方法選擇不當(dāng)可能造成截然相反的結(jié)果，而結(jié)果獲取過程中的人機(jī)料法環(huán)測各方面把控不嚴(yán)格等對結(jié)果的準(zhǔn)確度影響也較大。

      試驗(yàn)箱影響因素：

      在進(jìn)行高低溫能力驗(yàn)證測量的過程中，試驗(yàn)箱的選取從試驗(yàn)箱體積、實(shí)測風(fēng)速、校準(zhǔn)溫度點(diǎn)及溫度偏差四個方面考慮。

      測量環(huán)境的影響：

      高低溫能力驗(yàn)證試驗(yàn)是在試驗(yàn)箱內(nèi)部進(jìn)行的測試，當(dāng)樣品或感溫探頭放置在試驗(yàn)箱內(nèi)部，電源線或探頭連接線通過試驗(yàn)箱的測試孔連接至試驗(yàn)箱外部，測試孔由保溫棉或保溫塞封堵之后，測量環(huán)境對試驗(yàn)箱內(nèi)部的影響較小，可以忽略不計。

      測量位置的影響：

      試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度場穩(wěn)定性，溫度均勻度和溫度梯隊(duì)均對測量結(jié)果有效大的影響。因此，感溫探頭在試驗(yàn)箱內(nèi)部放置位置的選擇變尤為重要。