目錄:北京杜克泰克科技有限公司>>其他設(shè)備>>離子遷移譜>> EDK 4500 EIMS增強(qiáng)離子遷移譜氣體分析儀
| 參考價(jià) | ￥ 400000 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
| ￥400000 |
| ≥1臺(tái) |
更新時(shí)間：2024-08-28 21:16:59瀏覽次數(shù)：4439評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是環(huán)保在線上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 儀器原理 | 其他原理 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 在線式 |
概述
增強(qiáng)離子遷移譜氣體分析儀可提供達(dá)100 FWHM的分辨率，足以分辨異構(gòu)體成分。SIMS的一大優(yōu)勢(shì)是可以使用環(huán)境大氣作為緩沖氣，這一優(yōu)勢(shì)就把使用成本減低為零。 SIMS儀器的離子遷移譜技術(shù)通過(guò)電暈放電（CD）電離源提升了靈敏度。除了其他比如無(wú)放射性和更高離子產(chǎn)量的優(yōu)勢(shì)之外，我們的技術(shù)還提供了電暈放電選擇性反應(yīng)物離子的產(chǎn)生。除了可供OEM的SIMS引擎，我們還提供可與GC聯(lián)用便攜式的PSIMS，可配置正負(fù)極性的雙離子遷移光譜儀DSIMS等，以滿足不同的需求。
增強(qiáng)離子遷移譜氣體分析儀應(yīng)用：
l 過(guò)程快速監(jiān)測(cè)
l VOC/TOC監(jiān)測(cè)
l 痕量氣體分析
l 液體分析，固體和表面分析
l 爆炸物分析
l 藥品質(zhì)量控制
特點(diǎn)
l 高分辨力和靈敏度
l 無(wú)放射性等離子電離源
l 可在大氣壓或者次大氣壓下運(yùn)行
l 選擇性反應(yīng)物離子生成
l 與其他分離技術(shù)結(jié)合
l 對(duì)所有運(yùn)行參數(shù)的全面控制
配套的軟件可以快速查看屬于當(dāng)前操作間的測(cè)量點(diǎn)；由于這些點(diǎn)的分析是EIMS完成的，每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的目標(biāo)氣體都是同步檢測(cè)的。對(duì)于每個(gè)測(cè)量點(diǎn)，可以看到上一次測(cè)量的值，而當(dāng)前測(cè)量點(diǎn)會(huì)突出顯示所在的狀態(tài)。此外，還可以查看系統(tǒng)是在手動(dòng)模式還是自動(dòng)模式下測(cè)量，是在測(cè)量樣本還是在后臺(tái)階段，自動(dòng)序列的哪個(gè)點(diǎn)正在掃描，以及一個(gè)進(jìn)度條，指示序列的下一步還剩多少。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
3
環(huán)保在線