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三軸向電磁振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，通過(guò)電磁振動(dòng)產(chǎn)生一定頻率和振幅的振動(dòng)，對(duì)試件進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)，以檢測(cè)試件在振動(dòng)環(huán)境下的性能和可靠性。

垂直電磁震動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，適用于發(fā)現(xiàn)早期故障，模擬實(shí)際工況考核和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn)，也可用于各種產(chǎn)品的科研和生產(chǎn)線上的耐振檢查試驗(yàn)。

雙向電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，適用于電子元器件、電池部件、電纜組件、機(jī)電產(chǎn)品、汽車零部件、儀器儀表、電子玩具、醫(yī)藥及食品包裝等行業(yè)實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線上對(duì)樣品進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。

調(diào)頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于模擬電工、電子、汽車零部件以及其它涉及到運(yùn)輸?shù)漠a(chǎn)品和貨物在運(yùn)輸過(guò)程中的環(huán)境，檢測(cè)其產(chǎn)品的耐振性能。

振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，在試驗(yàn)室內(nèi)模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、使用過(guò)程中所可能經(jīng)受到的正弦振動(dòng)。提供產(chǎn)品在制造、運(yùn)輸及使用過(guò)程中的振動(dòng)環(huán)境。

多頻率電磁震動(dòng)臺(tái)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

三軸XYZ振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

三軸電磁震動(dòng)測(cè)試儀，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

垂直水平振動(dòng)測(cè)試臺(tái)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

緊固件橫向振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電動(dòng)式振動(dòng)臺(tái)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電動(dòng)式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

橫向振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電磁高頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

四度六度電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

滅火器振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

線路板振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

垂直振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

掃頻三軸電磁振動(dòng)臺(tái)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電子產(chǎn)品XYZ振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測(cè)試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。