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植物冠層分析儀/植物光譜儀/冠層分析儀
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- 【資料簡(jiǎn)介】
植物冠層分析儀/植物光譜儀/冠層分析儀 型號(hào):TC-2000
操作原理:
任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測(cè)的基本原理。通過(guò)測(cè)量每一波長(zhǎng)輻射的吸收、發(fā)送或反射,物質(zhì)的特性就能被確定。在實(shí)際應(yīng)用時(shí),僅需要選擇某些特定波段來(lái)識(shí)別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過(guò)濾器來(lái)選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對(duì)探測(cè)和評(píng)估植物葉片病害的嚴(yán)重性十分有用。近紅外區(qū)的長(zhǎng)波波段可以用于估計(jì)植物的生物化學(xué)成份。采用可見/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù),可快速測(cè)定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。儀器為8通道通用光譜檢測(cè)分析儀,zui大可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器,用戶可以根據(jù)實(shí)際須要定制不同波段的濾光片進(jìn)行光譜檢測(cè)。儀器自帶8個(gè)波段的濾光片,主要中心波段為:550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.內(nèi)置傳感器自動(dòng)校正模塊。植物冠層分析儀TC-2000應(yīng)用范圍:*描述:-植物正常生長(zhǎng)-植物冠層顔色-植物生長(zhǎng)環(huán)境*評(píng)估:-作物生物量-生物化學(xué)含量-作物產(chǎn)量組成-作物質(zhì)量因子-葉面積指數(shù)-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學(xué)植物毒素等造成的作物產(chǎn)量損失與品質(zhì)降低*植物生長(zhǎng)調(diào)節(jié)劑的評(píng)估*客觀有效地對(duì)各種葉片病害的評(píng)級(jí)*監(jiān)測(cè)應(yīng)用除草劑的效果*用于土壤改善和肥力的研究*葉面施肥的研究*灌溉日程安排的研究*干旱對(duì)植物生長(zhǎng)和產(chǎn)量的影響*不同基因型的特性*試驗(yàn)地變異的評(píng)估植物冠層分析儀TC-2000特點(diǎn):輻射計(jì)方向360度可調(diào),可以自動(dòng)校準(zhǔn)太陽(yáng)方向角對(duì)測(cè)量造成的影響儀器高矮可調(diào)節(jié)能夠在少云的情況下使用8個(gè)波段與Lsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似重量輕、便于攜帶可以用于無(wú)人值守的操作大屏幕中文液晶顯示手持機(jī)可存儲(chǔ),通過(guò)按鍵存儲(chǔ)帶計(jì)算機(jī)接口,可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī),以便分析之用技術(shù)指標(biāo):現(xiàn)在已定標(biāo)的有:A、歸一化植被指數(shù)NDVI、SA-NDVI,WDR-NDVI,RVIB、光化學(xué)反射系數(shù)PRIC、葉面積指數(shù)(LAI)D、冠層林隙比例(GAP SIZE)E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)波段:8個(gè)中心波長(zhǎng): 550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm操作范圍:0到+50℃,0到99%相對(duì)濕度不凝結(jié),<20%的相對(duì)濕度下貯藏反射率區(qū)間:0到99%分辨率:0.06%度:+/-4%檢波器:發(fā)光二管尺寸:100×100×80mm存儲(chǔ)數(shù)據(jù):1000組響應(yīng)時(shí)間:2秒重量:1kg植物冠層分析儀配置:該系統(tǒng)包括輻射計(jì)、數(shù)據(jù)記錄器(手持表)、伸長(zhǎng)桿 (可伸長(zhǎng)到3.5米)、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數(shù)據(jù)連接線、使用手冊(cè)植物冠層分析儀操作方法:在田間,通過(guò)支持架(桿)將輻射計(jì)保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測(cè)直徑是反射計(jì)高于冠層的高度的一半。系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)獲取程序便于對(duì)電壓數(shù)字化和記錄每一選擇波長(zhǎng)的反射百分?jǐn)?shù)。該程序同時(shí)允許對(duì)多個(gè)樣本取平均值。各種輔助數(shù)據(jù),如時(shí)間、入射輻射水平和輻射計(jì)內(nèi)部的溫度,均可在每次掃描時(shí)記錄下來(lái)。通過(guò)手動(dòng)開關(guān)或按手持機(jī)觸發(fā)的一次掃描只需約2秒鐘。各種操作過(guò)程均有屏幕提示。輻射計(jì)設(shè)計(jì)允許幾乎同時(shí)輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這一特性允許在非理想的太陽(yáng)角度和光照條件下測(cè)量作物冠層的反射率。在多云條件下,利用系統(tǒng)校準(zhǔn)程序進(jìn)行環(huán)境校準(zhǔn),仍然可以獲得有用的反射率觀測(cè)值。
2024世環(huán)會(huì)【工業(yè)節(jié)能與環(huán)保展】

div6月3日,2024世環(huán)會(huì)【工業(yè)節(jié)能與環(huán)保展】于上海丨國(guó)家會(huì)展中[詳細(xì)]
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