陳霞
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當前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>物理性能檢測>>膜厚計>> F50自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀
F50
經(jīng)銷商
東莞市
更新時間：2025-05-02 17:58:24瀏覽次數(shù)：2131次
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陳霞
| 測量范圍 | 1 | 類型 | 數(shù)字式 |
|---|
日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。
結(jié)合基于光學干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點
日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
| 半導體 | 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導體襯底、?T襯底等。 |
|---|---|
| 平板 | 單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、 各種光學膜等。 |
| 薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
| 引 | 砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等 |
薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點的功能。
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