SF750全數(shù)字超聲波探傷儀

時尚外觀、防滑設(shè)計
小巧輕薄、攜帶方便
前面板一體化設(shè)計-防水、防油、防塵
按鍵采用輕觸無沖、全點亮設(shè)計
無極支撐設(shè)計，手托可自由拆卸
的方波激勵信號處理技術(shù)

采用歐盟鑒定標(biāo)準(zhǔn)EN12668-1-2010；提供中英文歐標(biāo)鑒定報告各一份

產(chǎn)品概述：
SF750--將三豐科技多年的超聲經(jīng)驗和專家級技術(shù)融合到一臺便攜式探傷儀中，采用的方波激勵信號處理技術(shù)，利用人體工程的優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計，實現(xiàn)單手操作。

性能特點：

全數(shù)字，真彩顯示器，根據(jù)環(huán)境選擇背景色、亮度值可自由設(shè)定，領(lǐng)潮國內(nèi)應(yīng)用技術(shù)。
高壓方波發(fā)射、穿透力強，滿足大型鑄、鍛件探傷的需求。
寬頻帶高分辨率，檢出率高
脈沖重復(fù)頻率可調(diào)，避免探傷過程中出現(xiàn)混響信號
發(fā)射電壓、探頭阻尼、脈沖寬度可調(diào)，適用于不同材料，不同厚度工件的精準(zhǔn)探傷。
SD卡存儲設(shè)計，全程、連續(xù)、動態(tài)、大容量實時記錄檢測回波、數(shù)據(jù)
簡便實用的探頭頻譜分析功能，快捷掌握探頭的波形、頻譜和中心頻率，令探傷評價更準(zhǔn)確
自動增益，配合峰值回波、圖像凍結(jié)功能，快速確定缺陷波，探傷更高效
波峰記憶：實時檢索缺陷波，標(biāo)定缺陷值
實用AVG：實用AVG曲線、自動換算缺陷φ值(3N外)
裂紋測高：找準(zhǔn)缺陷波，實時衍射法測高
缺陷定位：實顯水平值L、深度值H、聲程值S
缺陷定量：實顯SL定量值
缺陷定性：通過包絡(luò)波形，人工經(jīng)驗判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
距離補償：厚工件遠距離探傷實時補償，避免漏檢小缺陷
B型掃描：實時掃查，描述缺陷橫切面
RF（射頻）回波功能：對于薄壁材料測量或?qū)W術(shù)研究和定性分析有很大幫助
裂紋測高功能：采用斜探頭的端點反射波法計算裂紋高度
門內(nèi)展寬：可將閘門內(nèi)回波區(qū)域放大到整個屏幕顯示，便于觀察到某一回波區(qū)域的細節(jié)。
VGA接口，無縫對接投影儀。
存儲數(shù)據(jù)無需主機與電腦連接后安裝驅(qū)動，只需通過U盤便將儀器內(nèi)數(shù)據(jù)快速導(dǎo)出。
內(nèi)置AWS D1.1/D1.5、API 5UE評價標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)：
通道數(shù)： 100組通道
工作頻率： 0.5 ~ 20MHz
總增益量： 120dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調(diào)節(jié))
探測范圍： 0 ~ 13000mm(鋼中縱波)
檢波方式：數(shù)字檢波
衰減器精度：<+1dB/12dB
波形顯示方式：射頻波，檢波 (全波、負或正半波)
聲速范圍： 0 ~ 15000m/s
水平線性誤差： ≤ 0.1%
垂直線性誤差： ≤ 3%
動態(tài)范圍： ≥ 42dB
分辨力： ≥ 40dB（5N14）
靈敏度余量： ≥ 70dB （深200mmφ2平底孔）
數(shù)字抑制： （0 ~ 80）% ，不影響線性與增益
顯示屏： 5.7"高亮彩色TFT顯示屏(640×480)
電源： 直流15V；交流220V
環(huán)境溫度： （-20 ~ 50）℃（參考值）
相對濕度：（20～95）% RH
工作時間：連續(xù)工作8小時以上（鋰電池供電）
外型尺寸： 228×140×45（高×寬×厚）
重量： 1kg(含電池)