對(duì)于需要性能和易用性的多用戶實(shí)驗(yàn)室而言，最完整的SEM。
新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動(dòng)化相結(jié)合，為同類儀器提供最完整的解決方案。
它非常適用于需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用。Prisma E成功獲得了極為成功的Quanta SEM。
出色的成像
多用戶實(shí)驗(yàn)室需要顯微鏡在短時(shí)間內(nèi)生成具有相關(guān)數(shù)據(jù)的高質(zhì)量圖像。Prisma E采用基于四極管組件的強(qiáng)大成像系統(tǒng)滿足了這一需求，
可在各種光束能量和真空條件下提供出色的結(jié)果。在所有這些條件下，地形圖和成像圖都提供必要的樣本信息。通過同步采集，該信息可供隨后進(jìn)一步解釋和分析。
輕松導(dǎo)航
尋找感興趣的區(qū)域甚至找到樣品本身都是一項(xiàng)繁瑣的工作......但不是在Prisma E上。室內(nèi)導(dǎo)航相機(jī)（Nav-Cam）
提供樣品架的詳細(xì)照片，使其易于使用一個(gè)會(huì)話中的多個(gè)樣本并逐個(gè)導(dǎo)航到它們。在示例中，只需單擊它即可轉(zhuǎn)到感興趣的區(qū)域。
導(dǎo)航凸輪圖像與樣本一起旋轉(zhuǎn)，因此導(dǎo)航非常直觀。
樣本靈活性
今天的研究超越了傳統(tǒng)金屬和涂層樣品 - 非導(dǎo)電材料，大型或重型樣品，臟樣品甚至濕樣品都需要在微觀尺度上進(jìn)行研究。
Prisma E具有三種成像模式 - 高真空，低真空和ESEM™ - 適用于任何SEM的泛樣品。此外，Prisma E的腔室適合大樣品，
并配備110x110 mm 5軸電動(dòng)中心平臺(tái)，傾斜范圍為105°，可以從各個(gè)角度觀察樣品。
支持分析
Prisma E的分析室支持對(duì)元素（EDX，WDS）和晶體學(xué)（EBSD）樣品數(shù)據(jù)的日益增長的需求，
該分析室支持多個(gè)EDX檢測器以提高通量并消除陰影效應(yīng)。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，
以確保所有技術(shù)的定位。得益于Prisma E的原位功能，即使在絕緣或高溫樣品上也能獲得可靠的分析結(jié)果。
光子學(xué)，地球科學(xué)，陶瓷，玻璃和故障分析應(yīng)用的附加樣品信息來自的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測器。
