Horiba X射線熒光分析儀是專門針對WEEE/RoHS /ELV法令，快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作非常簡單。

Horiba X射線熒光分析儀技術(shù)參數(shù)：
★   Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppm
★   使用1.2mm/3mm X射線導管技術(shù)（XGT）實現(xiàn)微小區(qū)域的高靈敏度分析
★   采用大型試樣室（460X360X150㎜） 
★   試樣為塑料、金屬、紙、涂料、油漆等，并真正實現(xiàn)無損檢測
★   可使用CCD照相機（50倍）試樣的位置 （業(yè)內(nèi)！X射線?光學同軸照射）
★   測定可一鍵實現(xiàn)簡單操作 
★   自動元素干擾修正、厚度補償
★   數(shù)據(jù)輸出到EXCEL并可依據(jù)管理值實現(xiàn)自動判定功能